Radiation tolerance tests on key components of the ePIC-dRICH readout card
- S. Geminiani*
- , B. R. Achari
- , N. Agrawal
- , M. Alexeev
- , C. Alice
- , R. Ammendola
- , P. Antonioli
- , C. Baldanza
- , L. Barion
- , A. Biagioni
- , A. Calivà
- , M. Capua
- , F. Capuani
- , A. Ciardiello
- , E. Cisbani
- , M. Chiosso
- , M. Contalbrigo
- , F. Cossio
- , M. Da Rocha Rolo
- , A. De Caro
*Corresponding author for this work
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
1
Scopus
citations