Skip to main navigation Skip to search Skip to main content

Radiation tolerance tests on key components of the ePIC-dRICH readout card

  • S. Geminiani*
  • , B. R. Achari
  • , N. Agrawal
  • , M. Alexeev
  • , C. Alice
  • , R. Ammendola
  • , P. Antonioli
  • , C. Baldanza
  • , L. Barion
  • , A. Biagioni
  • , A. Calivà
  • , M. Capua
  • , F. Capuani
  • , A. Ciardiello
  • , E. Cisbani
  • , M. Chiosso
  • , M. Contalbrigo
  • , F. Cossio
  • , M. Da Rocha Rolo
  • , A. De Caro
  • D. De Gruttola, G. Dellacasa, D. Falchieri, S. Fazio, O. Frezza, N. Funicello, M. Garbini, N. Jacazio, F. Lo Cicero, A. Lonardo, R. Malaguti, F. Mammoliti, M. Martinelli, M. Mignone, C. Mingioni, M. Nenni, F. Noto, L. Occhiuto, A. Paladino, D. Panzieri, P. Perticaroli, S. Plavully, L. Polizzi, L. Pontisso, R. Preghenella, R. Ricci, L. Rignanese, C. Ripoli, C. Rossi, E. Rovati, N. Rubini, M. Ruspa, A. Saputi, F. Simula, F. Spizzo, U. Tamponi, E. Tassi, G. Torromeo, C. Tuvè, G. M. Urciuoli, S. Vallarino, P. Vicini, R. Wheadon
*Corresponding author for this work

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

1 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Radiation tolerance tests on key components of the ePIC-dRICH readout card'. Together they form a unique fingerprint.
Sort by

Engineering

Physics